QWED 微波频率计(Microwave Frequency Q-Meter)可使用专用SPDR和SiPDR谐振器进行快速和自动测量。
微波及材料实验室的精确介电测量设备都可以用低成本、高精度测量系统代替昂贵的测量设备。传统上,介电测量一般使用昂贵的自动网络分析仪对谐振器进行测量。而高性价比的积社科技微波频率计(Microwave Frequency Q-Meter)可使用专用SPDR和SiPDR谐振器进行快速和自动测量。另外,专用、友好和高度可配置的应用程序通过计算机控制整个测量过程,且易于管理测量结果。
微波频率计(Microwave Frequency Q-Meter)的硬件部分包括稳定的PLL微波源和由32位ARM微控制器控制的DDS生成参考。宽带对数功率检测器用于测量通过谐振器的发射功率。多点共振曲线拟合算法将使Q因子得以准确计算。极大的硬件简化以及使用计算机显示结果可显著降低使用SPDR和SiPDR研究材料的电磁性能成本。
微波频率计(Microwave Frequency Q-Meter)连接SPDR及SiPDR进行测量
微波频率计(Microwave Frequency Q-Meter)频带覆盖范围为0.7-1.3 GHz、1.4-2.6 GHz、4.4-5.2 GHz、8.4-10.4 GHz,分别与之对应频率的SPDR、SiPDR相连接实现材料电磁参数的测量。
更高频(20-40 GHz ,详细介绍请与我们联系)的微波频率计(Microwave Frequency Q-Meter)搭配FPOR开放式谐振腔测量低损耗电介质的介电特性。